DIN 50438-1-1978 无机半导体材料的检验.用红外线吸收法测量硅中杂质含量.氧
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 05:31:46 浏览:9692
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【英文标准名称】:Testingofsemi-conductiveinorganicmaterials;determinationofimpuritycontentinsiliconbyinfraredabsorption,oxygen
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.用红外线吸收法测量硅中杂质含量.氧
【标准号】:DIN50438-1-1978
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1978-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数学计算;试验;定义;透射率;含量测定;硅;半导体;基准面;氧;反射比因数;图示;杂质
【英文主题词】:definitions;reflectancefactor;datum;testing;mathematicalcalculations;semiconductors;impurities;transmittance;diagrams;oxygen;determinationofcontent;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H17;H82
【国际标准分类号】:1660
【页数】:5P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.用红外线吸收法测量硅中杂质含量.氧
【标准号】:DIN50438-1-1978
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1978-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数学计算;试验;定义;透射率;含量测定;硅;半导体;基准面;氧;反射比因数;图示;杂质
【英文主题词】:definitions;reflectancefactor;datum;testing;mathematicalcalculations;semiconductors;impurities;transmittance;diagrams;oxygen;determinationofcontent;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H17;H82
【国际标准分类号】:1660
【页数】:5P;A4
【正文语种】:德语
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