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EN 300019-2-3-2003 设备工程(EE).电信设备的环境条件和环境试验.第2-3部分:环境试验规范.抗大气影响场所用固定设备

作者:标准资料网 时间:2024-05-25 10:32:36  浏览:9244   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:EquipmentEngineering(EE)-Environmentalconditionsandenvironmentaltestsfortelecommunicationsequipment-Part2-3:Specificationofenvironmentaltests;Stationaryuseatweatherprotectedlocations(EndorsementoftheEnglishversionEN300019-2-3
【原文标准名称】:设备工程(EE).电信设备的环境条件和环境试验.第2-3部分:环境试验规范.抗大气影响场所用固定设备
【标准号】:EN300019-2-3-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境影响;应用;分类;环境试验;气候防护系统;电气工程;试验;环境条件;仪器工艺;装置配置;天气条件;气候防护;仪器;环境;耐力;通信设备;固定的;气候试验;极限(数学);电信;远程通信
【英文主题词】:Classification;Climatictests;Communicationequipment;Deviceconfiguration;Electricalengineering;Environment;Environmentalconditions;Environmentaleffects;Environmentaltesting;Instrumenttechnology;Instruments;Limits(mathematics);Resistance;Stationary;Telecommunication;Telecommunications;Testing;Tests;Use;Weathercondition;Weatherguards;Weatherprotectionsystems
【摘要】:
【中国标准分类号】:M04
【国际标准分类号】:33_050_01
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:无损检测仪器 超声波探头型号命名方法
英文名称:Non-destructive testing instruments —Nomenclatures for models of probes in ultrasonic
中标分类: 仪器、仪表 >> 试验机与无损探伤仪器 >> 超声波与声放射探伤仪器
ICS分类: 试验 >> 无损检测
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2012-05-24
实施日期:2012-11-01
首发日期:
作废日期:
归口单位:全国试验机标委会
起草单位:常州超声电子有限公司、广东汕头超声电子股份有限公司超声仪器分公司、辽宁仪表研究所、北京铁道科学仪器设备有限公司
出版社:机械工业出版社
出版日期:2012-11-01
适用范围

本标准规定了压电式超声探伤用直探头、斜探头、双晶探头、液浸探头、表面波探头和可变角探头的型号组成项目、标称频率、压电材料、晶片尺寸、种类、特征等型号命名方法。
本标准适用于压电式超声探伤用探头。

前言

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引用标准

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所属分类: 仪器 仪表 试验机与无损探伤仪器 超声波与声放射探伤仪器 试验 无损检测
基本信息
标准名称:半导体分立器件 GP、GT和GCT级CS1型硅N沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
英文名称:Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon N-channel deplition mode field-effect transistor of Type CS1 GP,GT and GCT classes
中标分类: 综合 >> 标准化管理与一般规定 >> 技术管理
发布部门:中国电子工业总公司
发布日期:1992-02-01
实施日期:1992-05-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
提出单位:中国电子工业总公司科技质量局
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:中国电子技术标准化研究所
起草人:王长福、吴志龙、张宗国、刘美英
出版社:电子工业出版社
出版日期:1992-04-01
页数:11页
适用范围

本标准规定了CS1型硅沟道结型场效应晶体管(以下简称器件)的详细要求该种器件按GJB33-85《半导体分立器件总规范》的规定提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级)。

前言

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引用标准

GB 4586-1984 场效应晶体管测试方法
GB 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
GJB 33-1985 半导体分立器件总规范
GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法

所属分类: 综合 标准化管理与一般规定 技术管理

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